X射線數(shù)字射線成像(DigitalRadiograph,DR)工業(yè)計算機斷層掃描（IndustrialComputedTomography,ICT）它是工業(yè)無損檢測領(lǐng)域的兩個重要技術(shù)分支，GE新機l設(shè)備買賣主要看機器的性能和成色，DR檢測技術(shù)是20世紀(jì)90年代末實時出現(xiàn)的X射線數(shù)字成像技術(shù)，phoenix x-ray根據(jù)不用的應(yīng)用領(lǐng)域提供microfocus 和nanofocusTM X 射線系統(tǒng)，

與目前仍廣泛研究使用的射線膠片相比，DR檢測系統(tǒng)優(yōu)點是實時性強，可以通過在線實時檢測工件結(jié)構(gòu)介質(zhì)的不連續(xù)性、結(jié)構(gòu)設(shè)計形式、介質(zhì)物理密度等質(zhì)量控制缺陷，在快速無損檢測工作領(lǐng)域方面具有非常廣闊的發(fā)展經(jīng)濟前景。

ICT 是一種集 X 射線光電子、信息科學(xué)、微電子學(xué)、精密機械和計算機科學(xué)于一體的高科技技術(shù)。根據(jù)探測器收集到的數(shù)字投影序列，重建樣本在掃描區(qū)域內(nèi)橫截面的射線衰減系數(shù)分布圖像。

根據(jù)這一圖像，可以確定和測量試樣的結(jié)構(gòu)、密度、特征尺寸、組分變化和其他物理化學(xué)性質(zhì)。作為一種無損無接觸檢測技術(shù)，它廣泛應(yīng)用于金屬鑄件、壓力管道、金屬制品、汽車等領(lǐng)域的無損檢測、無損評價和逆向工程。

1. X 射線數(shù)字成像技術(shù)

與目前廣泛使用的 X 射線膠片相比，DR 技術(shù)可以在很大程度上避免圖像信息丟失的缺點。DR 成像技術(shù)具有探測速度快、探測效率高、 X 射線劑量低、易于掌握曝光條件等優(yōu)點。DR 系統(tǒng)還可以方便地存儲和處理圖像。DR 技術(shù)廣泛應(yīng)用于無損檢測領(lǐng)域。

2、X射線DR成像技術(shù)原理

DR 系統(tǒng)一般由光源、被測對象、探測器、成像工作站等組成。在 DR 檢測技術(shù)中，核心部件是檢測器。目前，實際工程中使用的探測器主要分為像增強器和非晶硅平板探測器。圖像增強器首先將屏幕上的 x 射線光子轉(zhuǎn)換成可見光，然后使用 CCD 攝像機將其可見光轉(zhuǎn)換成視頻信號，可以在顯示器上實時顯示，也可以通過 a/d 采集卡將數(shù)字信號輸入計算機顯示和處理。

非晶硅平板探測器可以采用大規(guī)模數(shù)據(jù)集成信息技術(shù)，集成了一個大面積非晶硅傳感器陣列和碘化鎵閃爍體，可直接集成X光子轉(zhuǎn)化為企業(yè)電子，我們通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器（ADC）變成數(shù)字控制信號。平板探測器具有研究動態(tài)管理范圍大、空間分辨率高的特點，可實現(xiàn)經(jīng)濟高速DR測試，已成為中國工業(yè)DR檢測網(wǎng)絡(luò)技術(shù)不斷發(fā)展的主流。

由 X 射線源產(chǎn)生的 X 射線形成一個強入射場，通過樣品的衰減獲得，然后將圖像輸出到探測器上。當(dāng)來自強入射場的射線照射到被測材料上時，X 射線光子與被測材料的原子相互作用，包括光電效應(yīng)、康普頓散射和相關(guān)散射。這些相互作用的最終結(jié)果是 X 射線被吸收或散射，也就是說，X 射線穿過物質(zhì)時會衰減。實際的衰變過程與射線的能量、物質(zhì)的密度和原子系數(shù)有關(guān)。