非破壞性檢驗，也叫無損檢驗，是指利用這些材料企業(yè)內(nèi)部控制結(jié)構的異?；蛉毕荻斐傻膶?、聲、光、電、磁等物理量的變化，對各種信息工程施工材料、零件、結(jié)構件等內(nèi)部和表面存在缺陷問題進行分析探測，phoenix x-ray根據(jù)不用的應用領域提供microfocus 和nanofocusTM X 射線系統(tǒng)，

工業(yè) CT 是一種應用于工業(yè)的成像技術，它可以以二維(2d)斷層掃描或三維(3D)成像的形式使用，而不會損壞被檢測物體，清晰而準確地顯示被檢測物體的內(nèi)部結(jié)構、成分、材料和缺陷狀態(tài)，GEx-ray是一種使用頻率極高，波長極短、能量很大的電磁波機器，

工業(yè)無損檢測是指計算機層析成像技術，是一種完全不同于普通輻射成像的成像方法。普通的輻射成像是將一個三維物體投影成一個二維平面成像。由于各級圖像的重疊，相互干擾，不僅使圖像模糊，而且使深度信息丟失，不能滿足分析評價的要求。

CT 是檢測被隔離對象的故障，以避免其他部位的干擾和影響，圖像質(zhì)量高，它能清晰準確地顯示被測部位的結(jié)構關系、材料組成和缺陷狀態(tài)。

過去無損檢測這個名詞最早叫探傷或無損檢測，其不同的方法也叫探傷、探傷、磁粉探傷、滲透探傷等等。這種名稱或?qū)懛鱾骱軓V，用法也很多，離不開NDT這個詞。

長時間與工業(yè)生產(chǎn)廢渣進行接觸，受到X射線輻射對人體有危害。由于X射線能激發(fā)熒光，使氣體電離，使其具有感光膠片感光，所以我們可以用電離儀、閃光計、感光乳片等來檢測。晶點陣列系統(tǒng)結(jié)構對X射線衍射能產(chǎn)生影響明顯的衍射技術效應，已成為發(fā)展研究發(fā)現(xiàn)晶體內(nèi)部結(jié)構、形態(tài)及各種問題缺陷的重要教學手段。

X 射線具有極強的穿透性，常用于醫(yī)學透視、工業(yè)檢測和工業(yè)中長期接觸 X 射線。X 射線可以激發(fā)熒光，電離氣體，使照相膠乳敏感。

因此，X射線可以用電離儀、閃爍計數(shù)器和感光乳劑膠片來探測。晶體點陣列結(jié)構對X射線衍射能量具有明顯的衍射效應，已成為研究晶體結(jié)構、形貌和各種缺陷的重要手段。

X 射線對人體有害，對生物細胞有一定的破壞作用。過量接觸 x 射線后，會影響生理功能，引致染色體異常和癌癥。然而，一天兩次，對人體沒有危險。

但是對于工業(yè)CT檢測設備來說，大多是用來檢測電子產(chǎn)品的缺陷，以達到無損檢測的目的。一切都要保護好，只要按要求操作，就不會有問題。而且X射線檢測的應用范圍很廣，可以應用于電子行業(yè)、鑄造行業(yè)、汽車行業(yè)的X射線檢測設備。